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一种基于双端探测器的晶体分辨图计算方法和装置
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专利号 CN201510976434.X
专利权人 中国科学院深圳先进技术研究院
专利类型 发明专利
领域类型 物理
有效日期 2035-12-23
法律状态 有效
合作类型 转让
价格: 面议
专利详情
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安全保障

摘要

本发明属于医疗设备技术领域,提供了一种基于双端探测器的晶体分辨图计算方法和装置。所述方法包括:根据预设能量阈值,去除双端探测器采集到的所有事件信息中低于所述预设能量阈值的事件信息;获取去除低于所述预设能量阈值的事件信息后的所述双端探测器的单端晶体位置坐标;根据所述双端探测器的单端晶体位置坐标,计算所述双端探测器的双端晶体位置坐标,以获得所述双端探测器的晶体分辨图。通过本发明提高了晶体分辨图计算方法的可靠性,更好地表征了双端探测器的空间分辨性能。

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