摘要

本发明公开了一种芯片引脚光学检测系统,包括芯片发送器、滑动导轨、聚光室、和成像镜头,所述芯片发送器设置在滑动导轨的顶端,在滑动导轨上沿着滑动导轨方向设有滑槽,聚光室固定在滑动导轨上,滑槽从的聚光室两侧穿过,被滑槽穿过的聚光室两侧设有通口,通口上设有可升降遮光板,在位于聚光室内的滑槽底部设有可伸缩阻挡块,芯片沿滑槽滑下被阻挡在可伸缩阻挡块上方,在聚光室正对滑槽的一面设有成像口,成像口外部设有成像镜头,成像镜头通过成像口正对芯片和芯片引脚,在聚光室内壁上环绕着芯片引脚设有若干聚光灯。其应用时,可以对芯片引脚进行自动化光学成像检测,提高检测效率,并设置独特的照明系统,提高光学成像质量。